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X射线荧光光谱仪的工作原理和未来发展

放大字体  缩小字体 发布日期:2021-01-28  来源:直读光谱仪  浏览次数:106
核心提示:X射线荧光光谱仪是一种比较新型的无损、快速、便捷的并且可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在被测物在X射线激发下,被测元素

X射线荧光光谱仪是一种比较新型的无损、快速、便捷的并且可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在被测物在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。

X射线

X射线荧光光谱仪又可分为波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。 事实上波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X荧光光谱仪(EDXRF)。是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线这节进入Si-Li探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一台 能量色散型X荧光光谱仪是1969年问世的。近几年,由于商品 能量色散型X荧光光谱仪仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益受到认识,发展迅猛。波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。

该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同时测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。

 
 
 

 
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